亞陶編碼HX3124000Q專為汽車應用開發非常低抖動的晶體振蕩器,ECERA有源晶振,對于VCXO和VCTCXO，定義可拉性的推薦方法。該值與指定的標稱頻率相關，減去器件的相對拉力范圍和由于穩定性因素（如溫度、老化等）引起的變化。
用于定義實際頻率與指定標稱頻率在操作條件變化時的最大偏差的參數。振蕩器穩定性通常被評定為包括溫度、負載、初始校準、電源和老化效應。
FCP是頻率控制產品。它們包括石英晶體、晶體振蕩器 (XO)、電壓控制振蕩器 (VCXO) 和TCXO。XO將IC和晶體作為一個組件集成在一起，以便在系統設計中輕松使用。

JX7011D0070.656000	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ JX	70.656MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C
UJ2600007Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ UJ	26MHz	±20ppm	-20°C ~ 70°C
UJ2600007Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ UJ	26MHz	±20ppm	-20°C ~ 70°C
UJ2600007Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ UJ	26MHz	±20ppm	-20°C ~ 70°C
FJ1120001Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FJ	11.2896MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C
FJ1120001Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FJ	11.2896MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C
FJ1120001Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FJ	11.2896MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C
FDC500026	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FD	125MHz	±50ppm	-20°C ~ 70°C
FDC500026	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FD	125MHz	±50ppm	-20°C ~ 70°C
FDC500026	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FD	125MHz	±50ppm	-20°C ~ 70°C
HX7011C0025.000000	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ HX	25MHz	±25ppm	-40°C ~ 105°C
HX7011C0025.000000	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ HX	25MHz	±25ppm	-40°C ~ 105°C
HX7011C0025.000000	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ HX	25MHz	±25ppm	-40°C ~ 105°C
NX5011B0125.000000	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ NX	125MHz	±25ppm	-20°C ~ 70°C
NX5011B0125.000000	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ NX	125MHz	±25ppm	-20°C ~ 70°C
NX5011B0125.000000	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ NX	125MHz	±25ppm	-20°C ~ 70°C
FNA000088Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FN	100MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C
FNA000088Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FN	100MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C
FNA000088Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FN	100MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C
FNA000065	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FN	100MHz	±25ppm	-20°C ~ 70°C
FNA000065	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FN	100MHz	±25ppm	-20°C ~ 70°C

我們的汽車兼容晶體振蕩器 (XO) 旨在滿足汽車應用的嚴格要求，并在其部件號中以“Q”區分。它們是在經過嚴格 IATF 16949標準認證的設施中制造的，并且能夠根據 VDA6.3 進行客戶審核。這些零件均受 PPAP（生產零件批準流程）文檔支持，從而滿足汽車電子行業的所有要求。
此外，所有符合汽車標準的晶體振蕩器 (XO) 均已使用 AECQ-200 和 QAP-81 進行了認證，以涵蓋石英晶體諧振器和 XO IC，而不是使用 AEC-Q100（僅針對 IC 定義）。我們計劃在 2021 年開始為我們新的符合汽車標準的 XO 產品逐步采用 AECQ-104 認證標準，但它不會將以前符合AECQ-200 + QAP-81的產品重新認證為 AEC-Q104（AECQ- 200 + QAP-81 資格標準和 AECQ-0104 資格標準是測試數量和添加 X 射線檢查）。

FNA000065	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FN	100MHz	±25ppm	-20°C ~ 70°C
NX71C50003	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ NX	125MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C
NX71C50003	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ NX	125MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C
NX71C50003	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ NX	125MHz	±25ppm	-40°C ~ 85°C
FNC500131	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FN	125MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C
FNC500131	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FN	125MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C
FNC500131	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FN	125MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C
NX71C50001	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ NX	125MHz	±20ppm	-20°C ~ 70°C
NX71C50001	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ NX	125MHz	±20ppm	-20°C ~ 70°C
NX71C50001	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ NX	125MHz	±20ppm	-20°C ~ 70°C
FM3900001Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FM	39.0625MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C
FM3900001Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FM	39.0625MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C
FM3900001Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FM	39.0625MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C
FKA000018Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FK	100MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C
FKA000018Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FK	100MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C
FKA000018Z	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ FK	100MHz	±50ppm	-40°C ~ 85°C
HX3124501Q	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ HX	24.545452MHz	±25ppm	-40°C ~ 105°C
HX3124501Q	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ HX	24.545452MHz	±25ppm	-40°C ~ 105°C
HX3124501Q	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ HX	24.545452MHz	±25ppm	-40°C ~ 105°C
HX31330001	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ HX	33MHz	±50ppm	-40°C ~ 90°C
HX31330001	Diodes晶振	SaRonix-eCera™ HX	33MHz	±50ppm	-40°C ~ 90°C